n 新版ASME Y14.5M-2009的主要更新 l 增加了新的概念和符号，例如： 双边不对等公差标注 移动基准(Moveable Datum Target) 自由轮廓基准 l 澄清或拓展了1994版的概念，例如： 尺寸公差、规则#1，理论尺寸、同轴度控制 l 解释了1994版混淆和含糊的概念 l 导入了美国ASME Y14系列中其它概念 n GD&T介绍，符号和术语 l 历史，目的，

n 检具介绍 l 检具范围，定义，目的，功能和使用 l 检具基本类型和应用 n 计量型检具原理（尤其针对欧洲和中国检具的设计） (Variable Gage) l 检具设计原理 l 通规, 止规, 环规, 块规 l 计量型检具和功能性检具简介 l 计量型检具设计要求 l 检具基准的确定：模拟法、直接法、目标法 l 零件的检具定位设计：平面 l 零件的检具定位设计：轴类，V型槽定位，锥度心轴定位

n 尺寸链和公差分析介绍 l 什么是尺寸链计算 l 尺寸链叠加的应用场合和解决的问题 l 尺寸链叠加要达到的目标 l 尺寸变差来源 l GD&T边界计算: MMC, LMC和RFS实体原则 l 尺寸链叠加要考虑的四个因素: - 零部件几何特征 - 基准和尺寸和公差标注形式 - 装配要求 - 尺寸链叠加的方向 l 尺寸链叠加计算方法和类型 - 手工计算 - 计算机模拟计算 - 极限公差叠加